詳細描述

  古董年代鑒定光譜儀

   Antique系列古董分析的儀器，主要用于古董元素指紋識別，可進行比對分析，來達到鑒定真品的作用，一次性可同時分析古陶瓷標本胎和釉中Na2O、MgO、Al2O3、CaO、Fe2O3、MnO、SiO2、TiO2、As、Cr、Cu、Co、Mn、Ni、Pb、Ti、V、Zn、Zr、Ba等化學成份含量，同時，為了更好的利用X熒光分析儀器的無損測量特性，我公司特意根據行業需要可定制作超大型抽真空樣品腔，以滿足不同大小、器形的陶瓷樣品的檢測。
       Antique系列儀器在測試陶瓷的同時亦可以測試青銅器(Cu、Sn、Pb、Zn等)、貴金屬（Au、Pt、Ag、Pb、Cu、Ni、Ru、Rh、Fe等）等的化學成份和金屬鍍層厚度，做到一機多用，是古文物檢測*的科學檢測儀器。 
 

古董年代鑒定光譜儀 技術指標
 測量元素范圍：從鈉（Na）至鈾（U）
 元素含量分析范圍：1ppm—99.99%
 分析精度：0.05%
 同時分析元素：同時可以分析30種以上元素
 測量鍍層：鍍層厚度測量zui薄至0.001um
 測量對象狀態：粉末、固體、液體
 測量時間：60s—200s 
 管壓：5KV—50KV
 管流：50uA—1000uA
  輸入電壓：AC 110V/220V 
 消耗功率：200W  
 環境溫度: 15-26℃ 
 相對濕度: ≤70% 
 
標準配置
 超薄窗大面積的*Si-pin/SDD探測器
 超高信噪增強器
 多套準直器和濾光片系統
 光路增強系統
 內置高清晰視覺系統
 加強的金屬元素感度分析器
 智能全元素分析軟件，與儀器硬件相得益彰，且操作簡單。
 面光源
 放大電路
 高低壓電源
 無標樣分析模型
 智能基體效應校正
 多重安全保護模式
 

 應用領域 
 古陶瓷
 古青銅器
 古首飾
 鍍層測厚